Mikroskopia optyczna
Laboratorium mikroskopii wyposażone jest w zestaw cyfrowych mikroskopów optycznych, przeznaczonych do obrazowania lub wstępnego oglądu i selekcji różnorodnych próbek przygotowywanych do dalszych badań metodami mikroskopii elektronowych oraz do badań innymi metodami. Są to:
- konfokalny mikroskop metalograficzny Eclipse MA 200 (Nikon) w konfiguracji odwróconej, do przestrzennego skanowania powierzchni materiałów twardych i miękkich, w tym próbek biologicznych w trybie konfokalnym lub obrazowania w trybie standardowym. System konfokalny mikroskopu jest wyposażony w:
- zmotoryzowany napęd osi Z
- trzy niezależne kanały fluorescencyjne (lasery: 405 nm, 488 nm oraz 543 nm)
- moduł skanowania wraz z oprogramowaniem do akwizycji obrazów konfokalnych 1D-5D (warstwy i stosy zmienne w czasie) w rozdzielczości do 2k x 2k pikseli
- moduł do modelowania 3D z zapisywaniem animacji w formie pliku avi.
- mikroskop stereoskopowy SMZ 1500 (Nikon). Przeznaczony jest do przestrzennej obserwacji mikro- i makroobiektów w świetle odbitym, przechodzącym oraz w trybie wysokiego kontrastu (Oblique Coherent Contrast), dedykowanego do próbek bezbarwnych i transparentnych. Mikroskop wyposażony jest w kolorową kamerę CCD oraz specjalistyczne oprogramowanie do kompleksowego redagowania obrazów.
- mikroskop (lupa) do makroobserwacji Multizoom AZ 100M (Nikon), wyposażony w:
- zmotoryzowany statyw mikroskopu z zestawem obiektywów (Plan Apo: 0,5x, 1x, 4x) w inteligentnej misce obiektywowej (zakres powiększeń od 5x do 320x, zmieniany w sposób ciągły)
- ręcznie sterowany stolik XYZ (zakres ruchu w płaszczyźnie XY: 150 x 100 mm)
- układ oświetlenia w trybie przechodzącym oraz odbitym (oświetlacz światłowodowy)
- układ do kontrastu Nomarskiego w świetle przechodzącym oraz odbitym
- kamerę cyfrową CCD 5.0 Mpix
- moduł EDF (Extendent Deph of Focus) do cyfrowej rejestracji obrazów o pogłębionej głębi ostrości i rekonstrukcji wirtualnych obrazów w geometrii trójwymiarowej.
- mikroskop badawczy z kontrastem fazowym Eclipse 80i (Nikon), wyposażony jest w zestaw obiektywów (Plan Achromat: 10x, 20x, 40x, 100x), specjalne oświetlenie z soczewką typu ”fly-eye” (oko muchy). Układ optyczny mikroskopu sprzężony jest z kamerą cyfrową pracującą pod kontrolą zaawansowanego oprogramowania NIS-Elements Advanced Research.
W laboratorium mikroskopii znajduje się również profilometr optyczny Countour GT-K1 (Veeco), który umożliwia precyzyjne, przestrzenne obrazowanie mikrogeometrii powierzchni materiałów.
Podstawą działania profilometru jest zjawisko interferencji światła i analiza wzoru prążków interferencyjnych. Profil wzoru interferencyjnego oraz jego pozycja w osi Z daje możliwość wygenerowania trójwymiarowej mapy badanego obszaru. Dzięki metodzie optycznej pomiar jest bardzo szybki i odbywa się bezstykowo. Zaletą metody interferencyjnej jest niezależność rozdzielczości w osi Z od zakresu skanowania.
Profilometr wyposażony jest w zmotoryzowany stolik XY (zakres kontrolowanego przesuwu 150 x 150 mm, z oprogramowaniem do scalania mniejszych obrazów w większe, oraz ruchomą, w osi Z, głowicę z zestawem obiektywów interferometrycznych. Możliwe są dwa tryby pracy profilometru:
- interferometria skanowania pionowego VSI (Vertical Scanning Interferometry). Metoda służy do pomiarów mikro- i nanometrycznych. Maksymalna wysokość skanowania wynosi do 10 mm. Do generacji wzoru interferencyjnego wykorzystuje się interferometer Mirau w szerokim zakresie widmowym niekoherentnego światła białego
- interferometria przesunięcia fazowego PSI (Phase Shifting Interferometery). Metoda przeznaczona jest do przestrzennego odwzorowania super-gładkich powierzchni o chropowatości mniejszej niż 30 nm. Technika wykorzystuje wąski zakres widmowy koherentnego światła zielonego oraz interferometr Michelsona i jest dedykowana do pomiarów subnanometrycznych.
