CNF

Dzisiaj jest:  17-11-2017

CNF CNF
CNF

CNF
CNF

Transmisyjna mikroskopia elektronowa

Laboratorium mikroskopii

Transmisyjna mikroskopia elektronowa

W laboratorium znajdują się dwa transmisyjne mikroskopy elektronowe w konfiguracji S/TEM, przeznaczone do obrazowania budowy mikro- i nanostruktur oraz analizy chemicznej materiałów i nanomateriałów:

  • najwyższej klasy system 300 kV wysokorozdzielczego elektronowego mikroskopu transmisyjnego HR-TEM Titan3 G2 60-300 (FEI) z wyposażeniem analitycznym

oraz

  • uniwersalny 200 kV elektronowy mikroskop transmisyjny Tecnai G2 20 X-TWIN (FEI) z wyposażeniem analitycznym.

Zobacz zdjęcia w galerii

Mikroskop Titan3 G2 60-300 wyposażony jest, między innymi, w:

Laboratorium mikroskopii - Transmisyjna mikroskopia elektronowa - TYTAN

  • akustyczną i termiczną obudowę
  • stabilne działo elektronowe o dużej jasności, z emisją polową systemu Schottky’ego (X-FEG) z monochromatorem
  • regulację napięcia przyspieszającego w zakresie od 60 kV do 300 kV
  • trójsoczewkowy układ kondensera
  • korektor obrazu – układ kompensacji aberracji sferycznej dolnej soczewki obiektywu
  • jednopochyłowy uchwyt tomograficzny z oprogramowaniem do wizualizacji i trójwymiarowej rekonstrukcji obrazu – tomografii elektronowej (electron tomography)
  • detektory typu ”solid state”: detektor jasnego pola STEM-BF (Scanning Transmission Micoscopy - Bright Field), detektor pierścieniowy ciemnego pola HAADF (High Angle Annular Dark Field)
  • filtr energii elektronów Gatan Tridiem 866 ERS z kamerą CCD, do obrazowania w trybie: EFTEM (Energy Filtered Transmission Electron Microscopy), dyfrakcji oraz spektroskopii strat energii elektronów EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
  • tryby obrazowania: wysokorozdzielcza transmisyjna mikroskopia elektronowa HR-TEM-BF/DF (High Resolution Transmission Electron Microscopy) w jasnym BF (Bright Field) lub ciemnym DF (Dark Field) polu, skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) z wykorzystaniem pierścieniowego detektora ciemnego pola HAADF, transmisyjna mikroskopia elektronowa z filtracją energii EFTEM, dyfrakcja elektronów, spektroskopia EELS
  • spektrometr energodysperyjnej fluorescencji rentgenowskiej EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) z detektorem Si(Li), umożliwiający mapowania składu chemicznego z atomową rozdzielczością. Zakres analizowanych pierwiastków B-U
  • system soczewek do mikroskopii Lorenza, do obserwacji domen magnetycznych
  • kamerę cyfrową Gatan US 1000P (2k x 2k) do rejestracji obrazów TEM oraz obrazów dyfrakcyjnych
  • kamerę cyfrową typu ”search-and-view” do podglądu ekranu fluorescencyjnego. Rozwiązanie umożliwia zdalne sterowanie miroskopem i komfortową pracę w jasnym pomieszczeniu
  • szereg pakietów specjalistycznego oprogramowania sterującego i użytkowego.

Obrazy oraz dane mikroskopowe pozwalają określić z atomową rozdzielczością m.in. morfologię (kształt i rozkład wielkości cząstek), strukturę krystaliczną, wzajemne ułożenie atomów i stopień ich uporządkowania w cząstkach, defekty sieci krystalicznej, strukturę porowatą, strukturę granic międzyfazowych i rozkład przestrzenny faz w materiałach wielofazowych oraz skład chemiczny materiałów (rodzaj i dystrybucję atomów).

Możliwość szerokiej zmiany napięcia przyspieszającego czyni z tego mikroskopu uniwersalne narzędzie badawcze. Konstrukcja mikroskopu zapewnia uzyskanie powiększeń do 1 000 000 razy w transmisyjnym trybie pracy i z atomową zdolnością rozdzielczą < 0,1 nm.

Dyfrakcja elektronowa pozwala na identyfikację fazową nanoobiektów, nawet z obszarów o średnicy około 1 nm. Możliwość silnego skupienia wiązki elektronowej w kolumnie mikroskopu umożliwia rejestrację obrazów transmisyjnych oraz analizę chemiczną techniką skaningową STEM.

Metoda fluorescencji rentgenowskiej EDS pozwala na szybką identyfikację pierwiastków cięższych od berylu, w formie analizy punktowej, liniowej oraz map dystrybucji pierwiastków w złożonych nanomateriałach.

Spektroskopia strat energii elektronów EELS dostarcza również cennych informacji o stanach wiązań chemicznych w granicach nanometrycznych faz, lokalnych pasmach energetycznych, krawędzi absorpcji oraz przerwie wzbronionej nanoobiektów, m.in. w tlenkach metali, nanomateriałach katalitycznych, zdefektowanych nanocząstkach, nanorurkach, półprzewodnikach, materiałach optoelektronicznych oraz w wielu innych nanomateriałach.

 Zobacz zdjęcia w galerii

Laboratorium mikroskopii - Transmisyjna mikroskopia elektronowa - TECNAI

Mikroskop Tecnai G2 20 X-TWIN wyposażony jest, między innymi, w:

  • działo elektronowe z emiterem LaB6
  • napięcie przyspieszające regulowane od 20 do 200 kV
  • dwusoczewkowy układ kondensera
  • symetryczne soczewki obiektywu, zapewniające optymalną zbieżność wiązki na próbce oraz w kącie bryłowym 0,3 srad dla zastosowań analitycznych
  • pierścieniowy detektor ciemnego pola HAADF (High Angle Annular Dark Field) do detekcji elektronów silnie ugiętych
  • tryby obrazowania: transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (Transmission Electron Microscopy) w jasnym BF (Bright Field) i ciemnym DF (Dark Field) polu, skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) z wykorzystaniem pierścieniowego detektora ciemnego pola HAADF, dyfrakcja elektronowa
  • spektrometr energodysperyjnej fluorescencji rentgenowskiej EDX (Energy Dispersive
    X-Ray Spectroscopy) z detektorem Si(Li), umożliwiający mapowanie składu chemicznego z atomową rozdzielczością. Zakres: B-U
  • kamerę cyfrową Eagle 2k HR do rejestracji obrazów TEM oraz obrazów dyfrakcyjnych.

Mikroskop Tecnai jest prosty w obsłudze i szczególnie dobrze nadaje się do badań rutynowych i seryjnych. Możliwość regulacji wysokiego napięcia przyspieszającego pozwala wybrać najlepsze warunki do obrazowania i spektroskopii.

Soczewki obiektywu typu X-TWIN są zoptymalizowane pod kątem wysokiej czułości analitycznej mikroskopu i jakości obrazowania STEM, co w połączeniu dużą powierzchnią analizowanej próbki jest zaletą tego mikroskopu.

Zunifikowane nośniki (holdery) próbek umożliwiają ich przenoszenie pomiędzy mikroskopami Tecnai i Titan.

Możliwości badawcze mikroskopu Tecnai G2 20 X-TWIN:

  • morfologia (kształt i rozkład wielkości cząstek)
  • struktura powierzchni, stopień uporządkowania atomów
  • struktura krystaliczna (objętościowa)
  • defekty sieci krystalicznej
  • struktura porowata
  • struktura granic międzyfazowych i rozkład przestrzenny faz w materiałach wielofazowych
  • skład chemiczny materiałów i nanomateriałów.

Zobacz zdjęcia w galerii

CNF
Strona główna
Cel projektu
Kontakt
Dostawy aparatury i usług
Wzór podziękowania
Prasa o CNF
Folder CNF
Galeria
Seminarium preparatyki
Konferencja Mikroskopia Elektronowa
Forum Innowacyjne Materiały
Podsumowanie projektu
10 lat w UE
Laboratoria
Laboratorium mikroskopii
Transmisyjna mikroskopia elektronowa
Skaningowa mikroskopia elektronowa
Mikroskopia optyczna
Mikroskopia sił atomowych
Preparatyka próbek mikroskopowych
Lab. spektroskopii elektronowych
Laboratorium spektroskopii Ramana
Laboratorium badań adsorpcyjnych
Laboratorium badań chemisorpcyjnych
Laboratorium dyfrakcji rentgenowskiej
Lab. fluorescencji rentgenowskiej
Laboratorium badań katalizatorów
Reakcje katalityczne
Metody izotopowe (SSITKA)
Metody temperaturowo-programowane
Laboratorium metod grawimetrycznych
Akredytacja
CNF
CNF CNF CNF CNF
set lang to polish ustaw język na angielski